高光谱成像仪在果蔬表面污染及损伤的无损检测中的应用

日期：2024-09-27 01:14

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摘要：

高光谱成像仪可以很好的应用在果蔬表面污染和损伤的检测中。高光谱成像仪不仅能够检测到果蔬表面的部分表征，而且可以深入分析和检测。应用高光谱成像的方法既能够实现无损检测，又能够快速准确的获取样本的完整的图像信息和光谱信息。通过图像和光谱分析方法，检测果蔬的物理结构、化学成分和表面特征。